MEBP-200P低频法测试原理
IEC60044-6 标准(对应国家标准 GB16847-1977)声称,CT的测试可以在比额定频率低的情况下进行,
避免绕组和二次端子承受不能容许的电压。
CT伏安特性测量的原理电路如下图:CT一次侧开路,从二次侧施加电压,测量所加电压 V 与输入电流 I
的关系曲线。此曲线近似 CT 的励磁电势 E 与励磁电流 I 的关系曲线。
设 CT励磁绕组在某一励磁电流 I 时的激磁电感为 L,激磁阻抗为 Z,则:
V = I?Z
电感 L与阻抗 Z之间具有下述关系:
Z = ω?L = 2πfL
则:V= I?2πfL
由公式中可见在某一激磁电感L时所加电压V与频率 f 成正比关系。
假设当 f = 50Hz时,为达到励磁电流 Ix,所需施加的电压 Vx为 2000V
Vx = Ix?2 π f L = 2000V,
若施加不同频率:
f = 50Hz,Vx = 2000V
f = 5Hz, Vx ≌ 200V
f = 0.5Hz,Vx ≌ 20V
由此可见需要使 CT进入相同饱和程度,施加较低频率信号所需电压可以大幅度降低这就是变频法的基本
原理。
在此必须严格注意,所需电压并非与频率呈线性比例关系,并非随着频率等比例降低,需要严格按照互
感器的精确数学模型进行完整的理论计算。
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